一、一般標準

1.工作溫度：-15℃~+80℃

2.貯存溫度：-30°C~+85*C

3.貯存時間： 

A.產品在無擠壓情況下平放：可長期保貯

B.產品在擠壓情況下存放：1個月

4.工作相對濕度：45%~95%

5.工作i壓：86-106Kpa

6.接觸率：5MA在12VDC/0.5秒/2*107次

7.接觸反彈：<12亳秒

8.絕緣電阻：>1012歐姆/500VDC

9.擊穿電壓：>25KV/mm

二、外觀

1.顏色

(1).標準：硫化裝配后硅膠不外露，無較大差異

(2).檢測方法：在明亮的自然光或40W日光燈下，將標準樣品或色卡與待校樣品放在一起，經視力1.0以上，無色盲的專注人員在肉眼與樣品間距為30cm的情況下目檢5秒鐘。

2.偏心

(1)標準：H厚-H薄

 彈性壁厚度<0.1MM時，模具檢測時X =20%;

≤X彈性壁厚度<0.2MM 時，模具檢測時X=15%

H厚+H薄

 彈性壁厚度<0.3MM時，模具檢測時X=8%

(2)檢測方法：用厚度儀測試。

3.溢料

(1)標準：從鍵面向下

單色料高≥露出外殼高度+ 1.0MM，裝外殼后看不見為宜.

(2)檢測方法：用游標卡尺測量

4.毛邊

(1)標準：產品邊緣：≤0.5MM

定位孔： ≤0.1MM

5.破裂

(1)標準： 無影響裝配與使用性能之處：≤1.0MM

(2)檢測方法：用游標卡尺測量

6. 色點凹凸點

(1)標準：客戶裝配后硅膠外露部分：無明顯可見

檢測方法：在明亮的自然光或40瓦日光燈照射下，將樣品放于距肉眼30CM左右處經

視力1.0以上人員目測5秒鐘

7.以上字符偏移

(1) 標準：中心值±0.15MM

(2)檢測方法：用工具顯微鏡測量

三、物理性能

1.尺寸

L＜10： L±0.05MM

10≤L＜20： L±0.08MM

20≤L<30： L+0.10MM

30≤L<50： L+0.15MM

50≤L<100： L+0.3%LMM

100≤L ： L+0.5%LMM

(2)檢測方法：用投影儀測量

2.彈力

(1)標準：

A.峰值P1

標準值： 

50±(5-10)g

70±(10-15)g

90±(15-20)g

100±(15-20)g

120±(20-25)g

150±(20-25)g

170±(25-30)g

200- 300g±35g

b.最小回彈P3

P1≤50G時： P3≥20G

50G<P1≤120G時： P3≥25G

120G<P1≤180G時： P3≥30G

180G<P1≤250G時： P3≥40G

250G<P1

時： P3≥50G

c.感覺：20%-80%

d.離散性

P1中心值≤150g時，同片產品之同種鍵型：≤15%

不同片產品之同種鍵型：<20%

P1中心值≥150g時，同片產品之同種鍵型：≤20%

不同片產品之同種鍵型：<25%

(2)測試方法：用AIKOH MODEL 1305彈力測量儀測出彈力隨沖程的變化曲線圖讀取其峰值P1，接觸彈力P2，最小回彈P3.計算其：

感覺=(P1-P2)/P1*

離散性=((P1更大峰值)-P1(最小峰值))/P1(更大峰值)*

3.接觸電阻

(1)標準：

a.黑粒導電：≤100歐姆

b.移印導電：≤250歐姆

c.絲印導電：≤500歐姆

(2)測試方法：用壓力為250g壓力使產品鍵之導電基壓在間隔為0.5MM的單縫半月形鍍金板上，待萬用表顯示值基本穩定后，讀取其顯示值。

5.壽命

a.彈性壁壽命

(1)標準：≥50萬次.

(2)測試方法：在AIKOH硅膠壽命測試儀的打擊速率為2-5次/秒的情況下，設置打擊平臺的打擊接觸行程為產品沖程+[0.1-0.2]mm，經10萬次打擊后，彈性壁不得開裂破損，可回彈且提失s30%，當客戶無要求時均按50萬次進行測試.

b.印刷導電壽命

(1)標準：≥200000次

(2)測試方法：在AIKOH硅膠壽命測試儀的打擊速率為2-5次/秒的情況下，設置打擊平臺的打擊接觸行程為產品沖程+[0.1-0.2]mm，經20萬次打后，導電物質不得從導電基上脫落H其接觸電阻在規格內。

c.印刷字體壽命

(1)標準：≥100圈

(2)測試方法：將字符單鍵安裝于PK-3-4字體壽命儀上，使鍵高出0.5-1.0MM，在加上500G的壓力轉動摩擦，字體不斷開，當客戶無明確要求時可采用目視厚度方法進行壽命控制.

d.PU壽命

(1)標準：≥RCA 50圈

(2)測試方法：將測試KEY安裝于RCA摩擦儀上露了高度0.5- lmm，壓力為175g情況下字體出現損傷時壽命即為PU壽命.客戶無要求時，PU壽命按此標準。

四、化學性能(只限錄音電話機的硅膠按鍵)

1.加熱失重率

(1)標準： a≤0.2%(經200℃/4HRS加熱失重后)

b.≤1 .0%(經200^C/24HRS加熱失重后)

(2)測試方法：將產品放于干燥箱內30分鐘然后取出，用分析天平稱取測試前產品的片重，W1將產品放入溫度為200+/-5*C的烘箱內烘烤4小時或24小時，然后將產品拿出放入干燥箱內放置30分鐘后用分析天平稱取其重量W2，計算(W1-W2)/W1*之值。

2.抽提失重率

(1)標準：≤3.5%

(3)測試方法：選取一些有代表性的鍵，剪取約0.5g樣品，再將其剪成0.005-0.01g的小粒，用分析天平稱其準確總重為W1，將樣品放抽提器內并加入異炳醇(IPA)進行提2小時，然后取出樣品再放入溫度為100"C的烘箱內烘烤半小時，取出后放入干燥箱內冷卻半小時稱其準確總重W2，計算(W1-W2)/W1*之值。

3.低分子含量

(1) 標準： D3-D10≤300PPM

測試方法：選取有代表性的鍵1.00+/-0.002g樣品，將其剪成約為2mm的小顆粒，放入小瓶內，再將20ML CCL4溶液注入小瓶中，加入20UL的內標物(CH3(CH2 9CH3)搖勻存放16-24HRS，用色譜分析儀測量其D3-D10的量.