一、一般標準

1.工作溫度(du)：-15℃~+80℃

2.貯存溫(wen)度：-30°C~+85*C

3.貯存時間： 

A.產(chan)品在無擠壓情況下平放：可長期保貯

B.產品(pin)在擠壓情況下存放：1個月

4.工作相對濕度：45%~95%

5.工(gong)作i壓：86-106Kpa

6.接觸率：5MA在(zai)12VDC/0.5秒/2*107次

7.接觸反彈：<12亳秒

8.絕緣(yuan)電阻：>1012歐姆/500VDC

9.擊穿電(dian)壓：>25KV/mm

二、外觀

1.顏色

(1).標準：硫化裝配后硅膠不外(wai)露，無較(jiao)大差異

(2).檢測方法：在明亮的自然光或40W日光燈下，將標準樣品或色卡與待校樣品放在一起，經視(shi)力(li)1.0以上，無色盲(mang)的專注(zhu)人員在肉眼與樣品間距為30cm的情況下(xia)目檢5秒(miao)鐘。

2.偏心

(1)標準：H厚-H薄

 彈性(xing)壁厚度<0.1MM時，模具檢測時X =20%;

≤X彈性(xing)壁(bi)厚(hou)度<0.2MM 時(shi)，模具檢(jian)測(ce)時(shi)X=15%

H厚+H薄

&nbsp;彈(dan)性壁厚度<0.3MM時(shi)，模具(ju)檢測(ce)時(shi)X=8%

(2)檢測方法：用厚度儀測試。

3.溢料

(1)標(biao)準(zhun)：從鍵面(mian)向(xiang)下

單色料高(gao)≥露(lu)出外(wai)殼高(gao)度+ 1.0MM，裝外(wai)殼后看不見為宜.

(2)檢測方法：用(yong)游標卡尺測量

4.毛邊

(1)標準：產品邊緣：≤0.5MM

定(ding)位孔： ≤0.1MM

5.破裂

(1)標準： 無(wu)影響裝配與使用性能之處：≤1.0MM

(2)檢測(ce)(ce)方(fang)法：用游標卡尺(chi)測(ce)(ce)量(liang)

6. 色點凹凸點

(1)標準(zhun)：客戶裝配后硅(gui)膠(jiao)外露部分：無明顯可見(jian)

檢測(ce)方(fang)法：在明亮的(de)自(zi)然光或(huo)40瓦(wa)日光燈照射下，將(jiang)樣品放于距肉眼30CM左右處經

視力1.0以上人員目測5秒鐘

7.以上字符偏移

(1) 標準：中(zhong)心值±0.15MM

(2)檢測(ce)方法：用工具顯(xian)微鏡測(ce)量

三、物理性能

1.尺寸

L＜10： L±0.05MM

10≤L＜20： L±0.08MM

20≤L<30： L+0.10MM

30≤L<50： L+0.15MM

50≤L<100： L+0.3%LMM

100≤L ： L+0.5%LMM

(2)檢測方法：用投影儀測量

2.彈力

(1)標準：

A.峰值P1

標準值： 

50±(5-10)g

70±(10-15)g

90±(15-20)g

100±(15-20)g

120±(20-25)g

150±(20-25)g

170±(25-30)g

200- 300g±35g

b.最小回彈P3

P1≤50G時： P3≥20G

50G<P1≤120G時： P3≥25G

120G<P1≤180G時(shi)： P3≥30G

180G<P1≤250G時： P3≥40G

250G<P1

時： P3≥50G

c.感覺(jue)：20%-80%

d.離散性

P1中心值(zhi)≤150g時(shi)，同(tong)片產品之(zhi)同(tong)種鍵(jian)型：≤15%

不同片產品之同種鍵(jian)型：<20%

P1中心值≥150g時，同片(pian)產(chan)品之(zhi)同種鍵型(xing)：≤20%

不同(tong)片產品之同(tong)種(zhong)鍵型：<25%

(2)測試方法：用AIKOH MODEL 1305彈力測量儀測出彈力隨沖程的變化曲線圖讀取其峰值P1，接觸彈力P2，最小回彈P3.計算(suan)其：

感(gan)覺=(P1-P2)/P1*

離(li)散(san)性(xing)=((P1更大峰值)-P1(最小峰值))/P1(更大峰值)*

3.接觸電阻

(1)標準：

a.黑(hei)粒(li)導電：≤100歐姆(mu)

b.移印導電：≤250歐姆(mu)

c.絲印導(dao)電：≤500歐(ou)姆

(2)測試方法：用壓力為250g壓力使產品鍵之導電基壓在間隔為0.5MM的單縫半月形鍍金(jin)板上(shang)，待(dai)萬用表顯示(shi)值基本穩定(ding)后(hou)，讀取其顯示(shi)值。

5.壽命

a.彈性壁壽命

(1)標準：≥50萬(wan)次(ci).

(2)測試方法：在AIKOH硅膠壽命測試儀的打擊速率為2-5次/秒的情況下，設置打擊平臺的打擊接觸行程(cheng)為產(chan)品沖程(cheng)+[0.1-0.2]mm，經10萬次打擊后，彈性壁不(bu)得開裂(lie)破損，可回彈且提失s30%，當(dang)客戶無要(yao)求時均按50萬次進行測試.

b.印刷導電壽命

(1)標準：≥200000次

(2)測試方法：在AIKOH硅膠壽命測試儀的打擊速率為2-5次/秒的情況下，設置打擊平臺的打(da)擊(ji)接觸(chu)行程(cheng)為產品沖程(cheng)+[0.1-0.2]mm，經20萬次打(da)后(hou)，導電物質不得(de)從導電基(ji)上脫落(luo)H其(qi)接觸電阻在規格內。

c.印刷字體壽命

(1)標準：≥100圈

(2)測試方法：將字符單鍵安裝于PK-3-4字體壽命儀上，使鍵高出0.5-1.0MM，在加上500G的壓力轉動(dong)摩(mo)擦(ca)，字體不斷開，當客戶無(wu)明(ming)確要(yao)求時可采用目視厚度方法(fa)進行壽命控制.

d.PU壽命

(1)標準(zhun)：≥RCA 50圈(quan)

(2)測試方法：將測試KEY安裝于RCA摩擦儀上露了高度0.5- lmm，壓力為175g情況下字(zi)體出現損傷(shang)時壽(shou)命(ming)即為PU壽(shou)命(ming).客戶無要求時，PU壽(shou)命(ming)按此標準。

四、化學性(xing)能(neng)(只限(xian)錄音電話機(ji)的硅(gui)膠按(an)鍵)

1.加熱失重率

(1)標準： a≤0.2%(經200℃/4HRS加熱失重后(hou))

b.≤1 .0%(經200^C/24HRS加熱失(shi)重(zhong)后)

(2)測試方法：將產品放于干燥箱內30分鐘然后取出，用分析天平稱取測試前產品的片重，W1將產(chan)品放(fang)入溫度為200+/-5*C的烘(hong)箱(xiang)內烘(hong)烤4小時(shi)(shi)或24小時(shi)(shi)，然(ran)后(hou)將產(chan)品拿(na)出放(fang)入干燥箱(xiang)內(nei)放(fang)置30分鐘(zhong)后用分析天平稱(cheng)取其重量W2，計(ji)算(suan)(W1-W2)/W1*之(zhi)值(zhi)。

2.抽提失重率

(1)標(biao)準：≤3.5%

(3)測試方法：選取一些有代表性的鍵，剪取約0.5g樣品，再將其剪成0.005-0.01g的小粒，用分析天平稱其(qi)準確(que)總重為W1，將樣品(pin)放抽提(ti)器內并加入異炳醇(IPA)進行提(ti)2小(xiao)時，然后取(qu)出(chu)樣品再(zai)放(fang)入(ru)溫度(du)為100"C的烘箱(xiang)內(nei)烘烤半(ban)(ban)小時(shi)，取出(chu)后(hou)放(fang)入(ru)干燥箱(xiang)內(nei)冷卻半(ban)(ban)小時(shi)稱其準確總重(zhong)W2，計算(suan)(W1-W2)/W1*之值。

3.低分子含量

(1) 標準： D3-D10≤300PPM

測試方法：選取有代表性的鍵1.00+/-0.002g樣品，將其剪成約為2mm的小顆粒，放入小瓶內，再將(jiang)20ML CCL4溶液(ye)注(zhu)入(ru)小瓶中，加(jia)入(ru)20UL的內標物(CH3(CH2 9CH3)搖勻存放16-24HRS，用(yong)色譜分析儀測量其D3-D10的量.